您好,欢迎来到智创中国!
首页 > 我要仪器
流程: 查找设备和服务 下单或询价 报价 付款 生产检测 发货 收货验收 评价 付款给设备拥有者
北京
天津
河北
山西
内蒙古
辽宁
吉林
黑龙江
上海
江苏
浙江
安徽
福建
江西
山东
河南
湖北
湖南
广西
广东
海南
重庆
四川
贵州
云南
西藏
陕西
甘肃
青海
宁夏
新疆
所属地域:上海市
英文名称:Scanning electron microscope
产地国别:日本
所属地域:北京市
英文名称:
产地国别:美国
英文名称:Inline High Resolution,high speed automated optical inspection system
英文名称:DIGITAL X-RAY IMAGING SYSTEM
英文名称:Transmission Electron Microscope
英文名称:无
英文名称:FEI Helios NanoLab 660 DualBeam System electron microscope
产地国别:捷克
英文名称:TEM Sample Holder
产地国别:瑞典
英文名称:Amplifier
英文名称:PCB InspectionSystem
产地国别:中国
英文名称:FESEM + EDS
英文名称:Zygo GPI XP/D 4
英文名称:S-3400N (Ⅱ) Scanning Electron Microscope
英文名称:TESCAN VEGA 3LMU
英文名称:ScanArray
英文名称:4
产地国别:德国
英文名称:FESEM
关于智创中国
常见问题
合作加盟
服务商入口