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所属地域:上海市
英文名称:Field Emission Scanning Electron
产地国别:英国
英文名称:scanning electron microscope
产地国别:荷兰
英文名称:Atomic Force Microscope
产地国别:美国
英文名称:High temperature microscope
产地国别:德国
英文名称:Table SEM sytem
产地国别:捷克
英文名称:Scanning Probe Microscopy
产地国别:日本
英文名称:Laser Confocal Scanning Microscope and TIRF System
英文名称:Orientation Imaging Microscopy System and Energy Dispersive X-ray Analyzer
英文名称:Scanning Electron Microscope
英文名称:Laser Scanning Confocal Microscope Live Cell Imaging System
英文名称:Olympus fluoview FV1000
英文名称:Fluorescence Microscope
英文名称:AFM
英文名称:Time Lapse Imaging System BioStation IM-Q
英文名称:Fuji Imaging Analgzer
英文名称:Cenfocal Microscopes Analysis System
英文名称:Fluorescent Microscopes System
英文名称:Field Emission Electron Microscope
英文名称:Scanning electron microscopy
英文名称:Confacal Microscope
英文名称:FE Scanning Electron Microscopy
英文名称:Western Blot Imaging System
英文名称:Atomic Force Microscopy
英文名称:inverted fluorescence microscope from carl zeiss
英文名称:Laser Scanning Confocal Microscopy
所属地域:北京市
英文名称:正在完善中
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