点击图片查看原图
高分辨场发射扫描电子显微镜  (收藏)

价格: 暂无价格

暂无服务

立即购买   加入购物车   加入预约

推荐
记录

设备分类编码: 010102

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [化学, 农学, 化学工程, 食品科学技术]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 022-23766516

电子邮箱: hxxywq@mail.tjnu.edu.cn

通讯地址: 天津市西青区宾水西道393号

邮政编码: 300387

联系人: 王倩

仪器所属类别: 分析仪器>>电子光学仪器>>扫描电镜

规格型号: Nova Nano SEM 230

所属科研设施:

主要功能: ①观察纳米材料,场发射扫描电子显微镜的一个重要特点就是具有很高的分辨率,现已广泛用于观察纳米材料。 ②材料断口的分析。 ③直接观察大试样的原始表面,它能够直接观察直径100mm,高50mm,或更大尺寸的试样,对试样的形状没有任何限制,粗糙表面也能观察,这便免除了制备样品的麻烦,而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度(背反射电子象)。 ④观察厚试样,其在观察厚试样时,能得到高的分辨率和最真实的形貌。 ⑤观察试样的各个区域的细节。试样在样品室中可动的范围非常大.由于工作距离大(可大于20mm)。焦深大(比透

主要技术指标: 分辨率 (高真空模式): 1.0 nm at 15 kV (TLD-SE)- 1.6 nm at 1 kV (TLD-SE)- 0.8 nm at 30 kV (STEM) 分辨率(低真空模式) - 1.5 nm at 10 kV (Helix 探测器)- 1.8 nm at 3 kV (Helix 探测器) 2.加速电压: 50 V - 30 kV,连续可调 3.电子束流范围: 0.6 pA - 100 nA 连续可调 4. 样品台移动范围:(50 x 50 mm, 4轴马达台) 5.Workstation with Windows XP Operating System 6.CCD IR Inspection Camera(红外CCD检测相机) 7.Through-lens SED (TLD) (极靴内二次电子检测器 TLD) 8.Everhart-Thornley SED (通用ET二次电子检测器 SED) 9.Low-Vacuum SED (LVD) (低真空二次电子检测器 LVD) 10.Through-lens BSED (TLD-B) (极靴内背散射电子检测器)

安放地址: 宾水西道393号

服务内容: ①观察纳米材料,场发射扫描电子显微镜的一个重要特点就是具有很高的分辨率,现已广泛用于观察纳米材料。 ②材料断口的分析。 ③直接观察大试样的原始表面,它能够直接观察直径100mm,高50mm,或更大尺寸的试样,对试样的形状没有任何限制,粗糙表面也能观察,这便免除了制备样品的麻烦,而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度 ④观察厚试样,其在观察厚试样时,能得到高的分辨率和最真实的形貌。

服务的典型成果:

对外开放共享规定: 参照天津师范大学仪器设备管理制度

参考收费标准: 协商



扫描二维码
关注“智创中国”
全球设备一手掌握。

服务支持 400-0660-652 周一至周日9:00-21:00 售后服务/投诉处理