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半导体测试系统  (收藏)

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设备分类编码: 119900

仪器设备分类: 专用

主要学科领域: [信息科学与系统科学, 工程与技术科学基础学科]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 023-65111170

电子邮箱: cquliuyan@cqu.edu.cn

通讯地址: 重庆市沙坪坝区沙正街174号

邮政编码: 400044

联系人: 刘艳

仪器所属类别: 特种检测仪器>>其他>>其他

规格型号: 4200SCS

所属科研设施:

主要功能: 用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机、Windows XP操作系统与大容量存储器。其自动记录,点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果, 用于检测半导体器件的电学参数和特性. 测量半导体材料或器件以及或其它相关材料、器件的IV、CV特性或其它电学参数。

主要技术指标: 1) 数量为4个;4个SMU的电流测量分辨率均可达0.1 fA;最大电流 ≥100 mA,测量精度可达10 fA; 2) SMU具有VSU(只加电压而不测量)以及VMU(只测电压,类似福特表)功能; 3) 最大电压源≥210 V,电压源设定最小分辨率至少为5 ?V; 4) 系统电容-电压(C-V)单元技术指标: 5) 频率范围:1KHz-10MHz ,偏置电压 :±60V; 6) 在脉冲发生器模式下,最小脉宽为10ns@10V,50ns@40V;可以输出任意波形; 7) 在脉冲I-V模式下,测量Id-Vg

安放地址: 重庆市沙坪坝区沙正街174号

服务内容: 半导体器件的片上参数测试;使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析;封装器件的特性分析;支持几包括MOSFET、BJT晶体管、二极管、电阻器、电容器、太阳能电池、碳纳米管和NVM存储器等不同类型期间的特性分析

服务的典型成果: 支持钙钛矿纳米光电响应研究、支持重庆大学“百人计划”,支持国家自然科学基金“量子点的制备”计划、支持重庆市基础科学与前沿技术研究专项项目、支持2016年全国大学生电子设计大赛、支持985国防军工预研项目

对外开放共享规定: 现场预约

参考收费标准: 200/小时



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