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低温半导体探针台系统  (收藏)

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设备分类编码: 010103

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [物理学, 材料科学, 能源科学技术]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 022-27406577

电子邮箱:

通讯地址:

邮政编码:

联系人: 戴海涛

仪器所属类别: 分析仪器>>电子光学仪器>>电子探针

规格型号: TTPX probe station

所属科研设施:

主要功能: 用于测试微纳米半导体器件,包括TFT、CMOS、LED、探测器、电池等器件的电学特性、光电特性、DC参量和低频特性。由于需要测试样品在低温以及变温下的电学性质,据此分析器件内部载流子传输机制

主要技术指标: 温度范围: 4.5K-400K,四通道温度测量,双通道PID控温; 探针臂:针尖:半径25μm,漏电流:<100fA频率:DC-50MHz,寄生电容: <50fF,电缆绝缘电阻>100GΩ,探针作热沉 样品卡盘:三轴,2英寸,绝缘电阻>100GΩ; 光纤探针臂:红外多模光纤,波长:350-2400nm,芯径50um, 外径125um

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准:



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