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两维粒子成像测速仪(PIV)  (收藏)

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设备分类编码: 010803

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [机械工程]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 022-60272124

电子邮箱:

通讯地址:

邮政编码:

联系人: 吴中华

仪器所属类别: 分析仪器>>显微镜及图象分析仪器>>扫描探针显微镜

规格型号: PowerView-120

所属科研设施:

主要功能: PIV技术除向流场散布示踪粒子外,所有测量装置并不介入流场。另外PIV技术具有较高的测量精度。由于PIV技术的上述优点,已成为当今流体力学测量研究中的热门课题,因而日益得到重视。目前PIV测速方法有多种分类,无论何种形式的PIV,其速度测量都依赖于散布在流场中的示踪粒子,PIV法测速都是通过测量示踪粒子在已知很短时间间隔内的位移来间接地测量流场的瞬态速度分布。若示踪粒子有足够高的流动跟随性,示踪粒子的运动就能够真实地反映流场的运动状态。因此示踪粒子在PIV测速法中非常重要

主要技术指标: 在PIV测速技术中,高质量的示踪粒子要求为:(1)比重要尽可能与实验流体相一致;(2)足够小的尺度;(3)形状要尽可能圆

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准:



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