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双束显微镜  (收藏)

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设备分类编码: 120302

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [物理学, 材料科学]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 021-65648597

电子邮箱: zhanglijian@fudan.edu.cn

通讯地址: 上海市杨浦区邯郸路220号

邮政编码: 200433

联系人: 张立建

仪器所属类别: 工艺试验仪器>>电子工艺实验设备>>半导体集成电路工艺实验设备

规格型号: Auriga

所属科研设施:

主要功能: 通过聚焦离子束的刻蚀和沉积制作纳米图形。用于各种微纳器件和低维纳米人工结构的制作,是研究材料在低维度、小尺寸下量子行为的重要工具,也可用于制备TEM样品和集成电路的失效分析等。主要具有以下功能:一、扫描电子显微镜SEM:各种材料形貌观察和分析;二、能谱分析仪EDS:材料微区成分分析;三、聚焦离子束系统FIB:材料微纳结构的样品制备,样品微观刻蚀与沉积等。

主要技术指标: 肖特基热场发射电子源(SEM),液态金属Ga 离子源(FIB),5路集成GIS气体注入系统 SEM加速电压:100V ~ 30kV SEM放大倍率:12X ~ 1000,000X SEM分辨率: 1.0nm @ 15kV1.9nm @ 1kV FIB加速电压:1kV ~ 30kV FIB放大倍率:300X ~ 500,000X FIB分辨率:2.5nm

安放地址: 邯郸路220号

服务内容: TEM制样,EDS,微纳结构刻蚀与沉积。

服务的典型成果: 在Nature及其子刊、PRL等杂志上发表文章

对外开放共享规定: 遵守微纳加工实验室规章制度

参考收费标准: 1000元/小时



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