设备分类编码: 010302

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [化学, 材料科学]

仪器设备来源: 购置

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仪器所属类别: 分析仪器>>X射线仪器>>X射线荧光光谱仪

规格型号: ZSX Primus Ⅱ

所属科研设施:

主要功能: 主要用于无机材料中各元素的成分分析。

主要技术指标: 一、 总体指标 a) 类型：顺序扫描波长色散型X射线荧光光谱仪； b) 元素分析范围：Be(4)—铀(92)； c) 浓度范围从亚ppm到主含量； d) 用于固体、粉末、薄膜等材料及特殊不规则小样品或少量样品检测。 二、 具体技术指标 X射线管 超尖锐端窗型，铍窗厚度：≤ 50μm，铑靶，长寿命灯丝，最大功率：≥60KV，≥150mA，≥4.0KW 高压发生器 高频高压发生器。最大功率：≥60KV，≥150mA，≥4.0KW 稳定性：外电压波动±10%时，输出电压波动 ≤ ±0.002%。 样品方式 上照射，适于分析样品：固体、粉末压片、熔融片。样品最大尺寸：直径：50mm，高：30mm，样品旋转：不小于30rpm/min。 光路设计 3位置以上准直器转换器，程序控制，自动切换，配置适合超轻、轻、重元素的至少3个准直器。光学系统应适应特殊不规则小样品的分析，配置多位准直器面罩：至少6种孔径以上：？0.5mm,？1mm, ？10mm, ？20mm, 30mm,？35mm，电脑程序控制，自动切换。4位以上滤光片。 探测器系统 探测器类型：流气正比计数器、闪烁计数器。闪烁计数器 (Ti - U), 线性范围 ？1000kCPS，扫描范围 5 – 118度；流气正比计数器 (Be - Zn ), 流气线性范围？2000kCPS，扫描范围 13 – 148度，并配置高效率的芯线自动清洗系统(专利技术)和气体密度稳定机构。 测角仪 驱动方式：θ-2θ分别驱动，定位方式：光学数码定位，无机械磨损。连续扫描速度：不少于200°/min；角度重现性：优于±0.0001°配置足够的晶体，至少包括B分光晶体、O-Mg分析晶体，PET(PE) 分析晶体,LiF200、LiF220和Ge111分析晶体等；可实现光谱室控温，光谱室温度稳定性：？ 0.1 C。 自动进样器 样品位数：大于40位;配备24个以上原装进口不同开口直径的样品盒，含4种孔径以上。 真空系统 具有双真空泵、双真空室（分析室和预抽真空室），光谱室全真空：要求整个光谱室、准直器、探测器等都在真空条件下。各真空室独立真空系统，保证分析室不受粉末试样污染。

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

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