设备分类编码: 010399

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [物理学, 化学, 地球科学, 药学, 材料科学, 矿山工程技术, 冶金工程技术, 机械工程, 能源科学技术, 纺织科学技术, 航空、航天科学技术, 环境科学技术及资源科学技术]

仪器设备来源: 购置

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仪器所属类别: 分析仪器>>X射线仪器>>其他

规格型号: Kratos AXIS Ultra DLD

所属科研设施:

主要功能: 主要用于固体材料的表面元素成份及价态的定性、半定量分析，固体表面元素组成的深度剖析及成像。可应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。

主要技术指标: 1.XPS 能量分辨率：0.48eV/(Ag 3d5/2） 0.68eV/(C 1s) 最小分析区域（收谱） <15μm 灵敏度：大面积 11，800kcps 110μm1，800kcps 27μm100kcps 成像空间分辨率：小于3μm 2.UPS 能量分辨率：Ag表面费米边在20%到80%结合能差不高于120meV 灵敏度：Ag 4d峰不低于1，000kcps 3.AES 灵敏度： 大于500kcps(10kV/5nA时Cu的LMM峰) 信噪比：500:1 4.SEM 分辨率：在10kV/5nA时优于100nm 在3kV/5nA时优于300nm

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准: