设备分类编码: 120304
仪器设备分类: 专用
主要学科领域: [物理学, 工程与技术科学基础学科, 材料科学, 机械工程, 动力与电气工程, 电子与通信技术, 航空、航天科学技术, 环境科学技术及资源科学技术]
仪器设备来源: 购置
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联系人: 钱雯磊
仪器所属类别: 工艺试验仪器>>电子工艺实验设备>>电子产品通用工艺实验设备
规格型号: TC405-Ⅱ
所属科研设施:
主要功能: 本系列产品是根据用户要求设计制造,广泛用于航空、航天、电子、IT行业、仪器仪表、电工产品等模拟试品在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等。
主要技术指标: 1 工作室尺寸 750×800×800 mm(深×宽×高) 2 提篮尺寸(约) 600×600×600 mm(深×宽×高) 3 高温室 高温室温度范围 室温~ +180℃ 升温速率 室温 ~ +180℃ ≤50min 4 低温室 低温室温度范围 -50℃~+85℃ 降温速率 室温到-50℃≤60min 5 提篮 温度冲击范围 -40 ~ +150℃ 温度波动度 ≤±0.5℃(空载、恒定状态时) 温度偏差 ≤±2℃(空载、恒定状态下,提篮内水平5点测试) 高温暴露 +150℃30 min 低温暴露 -40 30 min 样品转换时间 ≤5S 温度恢复时间 ≤5min 提篮承载 ≥20kg 温度冲击方式 由中央控制器自动控制提篮在低温箱或高温箱之间转换运动,分别与高温箱或低温箱形成闭路空气循环系统,迅速达到试验的目标温度。 6 安装功率 约26kW 7 满足标准 GJB150.3-86;GJB150.4-86; GJB150.5-86温度冲击试验; GB2324.22-89试验Na;GB2423.1-89试验A 低温试验方法;GB2423.2-89试验B 高温试验方法;GJB360.7-87温度冲击试验;GJB367.2-87温度冲击试验 8 测试方法 GB/T 5170 9 电压 380V±10%; 50 Hz;三相四线+接地线 10污染、电磁辐射 符合相关标准要求 以上产品运行技术数据除温度恢复时间外均在室温25℃,相对湿度≤85%R.H,测试室空载条件下测得。
安放地址:
服务内容:
服务的典型成果:
对外开放共享规定:
参考收费标准: