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高空间解析度光荧光图谱测试系统  (收藏)

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设备分类编码: 020302

仪器设备分类: 专用

主要学科领域: [物理学, 材料科学]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 020-85212667-806

电子邮箱: LED@scnu.edu.cn

通讯地址:

邮政编码:

联系人: 郑树文

仪器所属类别: 物理性能测试仪器>>光电测量仪器>>光波长计

规格型号: PLM-100

所属科研设施:

主要功能: 1)测量发射波长在532nm以上的光莹光谱(可进行面扫描) 2)PLM100使用白光通过光学干涉的方法可测试单层和多层的厚度,范围为0.2到20微米,这对DBRandVCSEL的分析是非常有用的。如A1As、A1GaAs等无机薄膜材料。 3)附加功能:可测可见范围内的电致光谱(需要样品供电源)

主要技术指标: 轴平台移动距离解析度 样品支援平台X>15cm10μ(可达0.5μ) 移动Y>15cm10μ(可达0.5μ) Z2.5cm1μ 激光发源波长532nmDoubleYAG功率20mW 尺寸长宽高 基本模组50nm80cm50cm 支架49cm45cm18cm 重量60kg 电源标准插头 类型范围线数/mm回应峰 光栅Visible500-1100nm1200750nm 探测器SiPINDector300-1100nm 凹凸镜蓝宝石200-6000nm

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准:



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