设备分类编码: 010803

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [物理学, 材料科学]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 021-69918581

电子邮箱: hrshi@siom.ac.cn

通讯地址:

邮政编码:

联系人: 施宏仁

仪器所属类别: 分析仪器>>显微镜及图象分析仪器>>扫描探针显微镜

规格型号: XE-70

所属科研设施:

主要功能: 在连续变温的条件下用于实时原位观察薄膜的微观形貌和表面粗糙度；磁性薄膜的磁畴结构随温度的变化；电流的空间分布及其温度效应，还可扩展DC-EFM,扩展电阻测量，扫描温度及热导率测量，纳米刻蚀/压痕，划痕，液体池等功能。

主要技术指标: 测试噪声：＜0.1nmx,y轴方向扫描：范围>150μm，最高分辨率优于0.2nm

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准: