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高温集成电路动态老化系统  (收藏)

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设备分类编码: 120302

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [电子与通信技术, 产品应用相关工程与技术]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 010-64102095

电子邮箱: cesilab@cesi.cn

通讯地址: 北京市大兴区亦庄经济技术开发区同济南路八号

邮政编码: 100176

联系人: 孟博

仪器所属类别: 工艺试验仪器>>电子工艺实验设备>>半导体集成电路工艺实验设备

规格型号: ELEA-J

所属科研设施:

主要功能: 对VLSI,LSI,MSI,SSI数字/模拟集成电路进行高温动态老化试验和监测

主要技术指标: 系统烘箱部分:温度:室温~150℃,过冲≤3℃,升温时间≤40min,温度偏差≤±2℃,温度均匀度≤4℃双重超温保护装置:系统电源与信号部分:整机一共20台25V/40A高可靠开关电源,32个老化工位,可进行32种器件老化,设备每个工位可以提供64路数字信号,4路模拟信号,并且一个老化工位可以回检64路回检信号;一级电源技术指标:输出电压范围:0~25V,输出电流范围:0~40A,纹波RMS:≤100mV,过压保护范围:5~25V,恒流保护范围:1~40A;二级电源指标:VCC,VMUX,VCLK,VEE输出电压1V~18V,电流10A(MAX),纹波≤10mV,程控分辨率100mV

安放地址: 亦庄经济技术开发区同济南路八号DPA中心

服务内容: 主要用于集成电路器件的长时间可靠性的验证。

服务的典型成果: 用于电子元器件的研制和鉴定验收。

对外开放共享规定: Cesi-TY(A)管理03 大型科研仪器设备开放使用管理办法

参考收费标准: 3500元+50~80元/h,每批22只



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