设备分类编码: 010803

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [材料科学, 冶金工程技术, 机械工程, 能源科学技术]

仪器设备来源: 购置

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联系人: 沙菲

仪器所属类别: 分析仪器>>显微镜及图象分析仪器>>扫描探针显微镜

规格型号: Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS

所属科研设施:

主要功能: 以很高的分辨率对物质微观形貌进行显微成像分析；测定物质结构；在物质微观形貌及结构进行分析的同时，对物质成分进行微区分析，微区尺寸可为纳米尺度。

主要技术指标: 分辨率 二次电子(SE)成像：高真空模式：30kV时 1.2 nm；1kV时 3.0nm 低真空模式：30kV时 1.5 nm；3kV时 3.0nm ESEM 环境真空模式: 30kV时 1.5 nm 背散射电子(BSE)成像：30kV时 2.5 nm 背散射电子衍射（EBSD） 放大倍数 高真空模式: 12x - 1,000,000x 低真空模式: 12x - 1,000,000x

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准: