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半导体参数测试系统(含探针台)  (收藏)

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设备分类编码: 990000

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [化学, 物理学, 药学]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 0512-65880367

电子邮箱: xuqingfeng@suda.edu.cn

通讯地址: 苏州市吴中区干将东路333号

邮政编码: 215002

联系人: 徐庆锋

仪器所属类别: 其他仪器>>其他>>其他

规格型号: 4200-SCS+EPS150COAX-PK

所属科研设施:

主要功能: 测试有机或无机材料的半导体参数性能。

主要技术指标: 探针台: 尺寸:150mm 分辨率:5μm 精度:≤ 5μm(0.2 mils) 倍数:最大100X 移动距离:12.5mm x 12.5mm x 12.5mm (X-Y-Z)。半导体参数测试系统: SUM单元最大电流100mA, 最大电压210V,最大功率2.2W,设定最小分辨率5μV PMU模块最小脉宽:10ns, 脉冲发生器频率:1Hz-50M Hz, 采样率:5ns , 最大脉冲电压80Vp-p, -40V—+40V

安放地址: 干将东路333号

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准:



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