点击图片查看原图
X-射线测厚仪  (收藏)

价格: 暂无价格

暂无服务

立即购买   加入购物车   加入预约

推荐
记录

设备分类编码: 010399

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [化学工程]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 021-60877216

电子邮箱:

通讯地址:

邮政编码:

联系人: 傅世姚

仪器所属类别: 分析仪器>>X射线仪器>>其他

规格型号: XMDVM-T7.1-W

所属科研设施:

主要功能: 基于X-射线荧光检测原理。可测量三层镀层的每一层镀层的厚度及金属元素的成分含量,还可分析电镀液中金属离子的含量。

主要技术指标: 各种电镀层,多层电镀层的分别测试,合金镀层的成份分析。

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准:



扫描二维码
关注“智创中国”
全球设备一手掌握。

服务支持 400-0660-652 周一至周日9:00-21:00 售后服务/投诉处理