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半导体参数测量仪  (收藏)

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记录

设备分类编码: 040106

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [物理学, 材料科学]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 0512-62872594

电子邮箱: tfzhou2007@sinano.ac.cn

通讯地址:

邮政编码:

联系人: 周桃飞

仪器所属类别: 电子测量仪器>>通用电子测量仪器>>集成电路测试仪

规格型号: 4200-SCS1F

所属科研设施:

主要功能: 系统可进行6端口器件的DC和PIV测量;软件内置了C-V分析仪的驱动程序,可控制4980等设备,进行电容、电压的测量;此外软件上内置了纳米测试工具包,针对7种常用纳米器件开发出16种测试模块,可大大简化测试过程

主要技术指标: 1、普通IV 测量 (0.1fA~100 mA; 1μV~200 V, 5 SMUs ),电压测量范围为1mV-200V,电压测量最小分辨率为1mV,电流测量范围为0.1fA-100mA(高功率可到1A),电流测量最小量程为1Pa,在最小量程上的电流测量最小分辨率为0.1fA,精度10fA,该SMU的最小脉冲工作时间为5ms,额定功率:2W(中功率SMU);20W(高功率SMU)。2、普通CV测量 (From 20 Hz to 2 MHz),扫描电压范围0~±40V;,可变频率范围:20Hz—2MHz,频

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准:



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