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膜厚仪  (收藏)

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设备分类编码: 030124

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [物理学, 材料科学]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 025-83621215

电子邮箱: diwu@nju.edu.cn

通讯地址: 南京市栖霞区仙林大道549号南京大学仙林校区

邮政编码: 210023

联系人: 吴迪

仪器所属类别: 计量仪器>>长度计量仪器>>X荧光测厚仪

规格型号: DNS VM-1220

所属科研设施:

主要功能: 测量薄膜厚度。可同时测量4层薄膜的厚度。

主要技术指标: 测量范围:1纳米~20微米;重复性:3微米以下偏差小于0.1nm,3微米以上优于0.03%;样品可动范围:200毫米;光斑:4微米。

安放地址: 唐仲英楼LB07室

服务内容: *

服务的典型成果: *

对外开放共享规定: 参见学校规定

参考收费标准: 400元/样。



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