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质子激发X射线荧光分析  (收藏)

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设备分类编码: 100399

仪器设备分类: 专用

主要学科领域: [物理学, 化学, 能源科学技术, 环境科学技术及资源科学技术]

仪器设备来源: 研制

联系电话: 021-39194774

电子邮箱: baoliangman@sinap.ac.cn

通讯地址:

邮政编码:

联系人: 包良满

仪器所属类别: 核仪器>>离子束分析仪器>>其他

规格型号: 自主研制

所属科研设施:

主要功能: PIXE分析具有灵敏度高、分析速度快、多元素同时分析能力强和非破坏性分析等一系列优点,已经广泛应用在环境科学、材料科学、地球化学、考古、生物、医药、刑侦等多种领域。

主要技术指标: (1)真空PIXE,ORTEC SLP-06165型Si(Li)探测器,探测面积30mm2, 探测器Be 窗厚度 12.7 微米,能量分辨率为180eVFWHM@5.9keV。 (2)外束PIXE, Amptek SupreX-123 SDD硅漂移探测器,探测面积25mm2,探测器Be 窗厚度12.5 微米,能量分辨138eV FWHM@5.9keV。 (3)束流强度:~10-20nA(真空束),~1nA(外束)。典型元素Fe、Cu、Zn探测极限0.001g,精度10%。

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准:



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