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扫描探针显微镜  (收藏)

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设备分类编码: 010803

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [物理学, 材料科学]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 010-58802187

电子邮箱: rfdou@bnu.edu.cn

通讯地址:

邮政编码:

联系人: 窦瑞芬

仪器所属类别: 分析仪器>>显微镜及图象分析仪器>>扫描探针显微镜

规格型号: HR-SPM

所属科研设施:

主要功能: 1)材料表面形貌测量:高分辨扫描隧道显微镜(STM)、接触/非接触模式原子力显微镜、横向力和空气环境下轻敲模式(Tapping Mode)原子力显微镜; 2)摩擦力分析:摩擦力学曲线、相位成像扫描模式,力调制扫描模式; 3)微观磁力分析:AC和DC磁力显微镜模式; 4)可控环境下的测量:液相环境下的轻敲扫描模式(Tapping mode/force modulation);不同气体环境下的AFM/STM扫描模式(可用于生物领域的测量和表征) 5)电学性能分析:AC和DC静电力扫描模式、表面电容/电

主要技术指标: 样品尺寸:直径≤15mm diameter; 厚度约5mm 分辨率:STM分辨率:XY方向≤0.1 nm, Z方向≤0.1nm AFM 分辨率: XY方向≤0.5 nm, Z方向≤1nm 噪音指标:防震台隔离机械震动;隔音系统控制声音噪音,垂直方向RMS 噪音≤0.3?,系统噪音0.5~1pA 扫描范围: 10×10×2.5μm(±10nm) 相位同步检测灵敏度:0.01度(1KHz)

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准:



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