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IC芯片线路缺陷检测仪  (收藏)

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设备分类编码: 010899

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [电子与通信技术]

仪器设备来源: 其它

联系电话: 021-50793616

电子邮箱: sales3_sh@ma-tek.com

通讯地址: 上海市浦东新区张江祖冲之路1505弄138号

邮政编码: 201203

联系人: 王岩

仪器所属类别: 分析仪器>>显微镜及图象分析仪器>>其他

规格型号: uPhemos-200

所属科研设施:

主要功能: OBIRCH可用于IC芯片内部高阻抗及低阻抗分析, 线路漏电路径分析。利用OBIRCH方法,可以有效地对芯片线路中的缺陷进行检测定位,如线路线条中的空洞、通孔下的空洞、通孔底部高阻区等;也能有效的检测短路或漏电,是发光显微技术的有力补充。

主要技术指标:

安放地址: 上海市上海市浦东新区张江祖冲之路1505弄138号

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准: 1950



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