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集成电路老化测试系统  (收藏)

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设备分类编码: 990000

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [电子与通信技术]

仪器设备来源: 其它

联系电话: 4001185171

电子邮箱: ron_yu@isti.com.cn

通讯地址: 上海市闵行区宜山路1618号新意城C栋一楼

邮政编码: 201103

联系人: 尤佳荣

仪器所属类别: 其他仪器>>其他>>其他

规格型号: B1120MH

所属科研设施:

主要功能: 用来做耐温老化试验的。在耐温老化试验中,首先要根据老化测试系统机台内部的接口,另外设计制作老化测试板,将要测试的集成电路芯片插在老化测试板上,再将老化测试板插入老化测试系统内部的接口中,老化测试系统内部接口可提供电压和信号,通过老化测试板供给芯片,同时让老化测试系统升温,让芯片在高温状态下工作。在一定的工作时间结束后取出集成电路芯片,再通过其他测试设备判断芯片是否损坏,从而判断集成电路芯片的寿命。

主要技术指标: Support Chip Types: Logic Product & Memory Product; Max.Number of Slots: 36 ; Number of Zone: 6 zones;Pattern Vector Depth: 128K;Pattern Channels:96 channels;Clock Rate:5MHz,50ns resolution;Waveform Format:RZ,NRZ,RO,SBC;Driver Capacity:I Sink 200mA,l Sour

安放地址: 上海市上海市闵行区宜山路1618号新意城C栋一楼

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准: 30000/批



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