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元器件检测筛选-集成电路高温动态老化系统  (收藏)

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设备分类编码: 990000

仪器设备分类:

主要学科领域: []

仪器设备来源: 其它

联系电话: 13611031228

电子邮箱: lihong@nssc.ac.cn

通讯地址: 北京市海淀区中关村南二条一号

邮政编码: 100190

联系人: 李宏

仪器所属类别: 其他仪器>>其他>>其他

规格型号: BTI-E3000AT/1

所属科研设施:

主要功能: 可进行集成电路的高温动态老化试验、高温存储试验、温度冲击试验、颗粒噪声碰撞、密封性检测和电参数的三温测试。

主要技术指标:

安放地址: 北京市北京市海淀区无

服务内容: 集成电路动态功率老化

服务的典型成果:

对外开放共享规定: 遵照中国科学院对外开发统一管理规定

参考收费标准: 分析项目:集成电路动态功率老化,分析标准:微电子器件试验方法和程序,前处理标准:用户指定,前处理收费(院外):0,分析收费(院外):30;



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