点击图片查看原图
少子寿命测试仪  (收藏)

价格: 暂无价格

暂无服务

立即购买   加入购物车   加入预约

推荐
记录

设备分类编码: 010699

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [电子与通信技术]

仪器设备来源: 其它

联系电话: 4001185171

电子邮箱: service@qwings.cn

通讯地址: 上海市宝山区延长路(149号)

邮政编码: 200444

联系人: 牵翼

仪器所属类别: 分析仪器>>波谱仪器>>其他

规格型号: WT2000PV

所属科研设施:

主要功能: 单晶和多晶硅块/锭,任意形状、半径的硅片微波光电导衰减法测量硅片少数载流子寿命,Fe沾污测量;涡旋电阻法测量pn结电阻率、方块电阻;测量电池片LBIC电流,扩散长度,反射率,计算内外量子效率。

主要技术指标: 1.微波激发波长905nm,最小扫描步长1mm2.LBIC四个激发波长:408nm,850nm,950nm,980nm3.方块电阻测试4.体电阻测试

安放地址: 上海市上海市宝山区延长路(149号)

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准: 200



扫描二维码
关注“智创中国”
全球设备一手掌握。

服务支持 400-0660-652 周一至周日9:00-21:00 售后服务/投诉处理