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FET3400C半导体测试系统  (收藏)

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设备分类编码: 040599

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [动力与电气工程, 电子与通信技术, 航空、航天科学技术]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 010-64102095

电子邮箱: cesilab@cesi.cn

通讯地址: 北京市大兴区亦庄经济技术开发区同济南路八号

邮政编码: 100176

联系人: 孟博

仪器所属类别: 电子测量仪器>>大规模集成电路测试仪器>>其他

规格型号: FET3400C

所属科研设施:

主要功能: 测试对象是各种半导体分立器件(二极管、整流桥、三极管、场效应管、可控硅、IGBT、光电耦合器和达林顿矩阵等)。系统可用于上述器件生产过程中的半导体圆片测试,成品测试,出厂检验;整机厂家的器件入厂检验和质量控制。

主要技术指标: 电流:100pA~300mA;脉冲电流:3μA~120A;电压:0.1V~2000V

安放地址: 亦庄经济技术开发区同济南路八号411

服务内容: 半导体分立器件的测试

服务的典型成果: 曾为中科院微电子所、北京微电子技术研究所等单位提供测试服务。

对外开放共享规定: Cesi-TY(A)管理03 大型科研仪器设备开放使用管理办法

参考收费标准: 面议



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