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扫描探针显微镜  (收藏)

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设备分类编码: 029900

仪器设备分类: 通用

主要学科领域: [生物学, 林学, 材料科学]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 010-84789813

电子邮箱:

通讯地址:

邮政编码:

联系人: 田根林

仪器所属类别: 物理性能测试仪器>>其他>>其他

规格型号: ICON

所属科研设施:

主要功能: 是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术。它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲,偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表面的形貌或原子成分。在聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究中将会得到广泛应用。

主要技术指标: X-Y方向扫描范围:90μm×90μm典型值,最小85um Z方向扫描范围:10μm典型值,在成像及力曲线模式下;最小9.5μm 垂直方向噪音基底:<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz) X-Y定位噪音(闭环):≤0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz) X-Y定位噪音(闭环):≤0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz) Z传感器噪音水平(闭环):35pm RMS, 典型成像带宽(达到625Hz) 整体线性误差(X-Y-Z):0.5% 典型值

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准:



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