设备分类编码: 010102

仪器设备分类: 专用

主要学科领域: [物理学, 材料科学, 电子与通信技术]

仪器设备来源: 购置

联系电话: 0851-83629578

电子邮箱:

通讯地址:

邮政编码:

联系人: 白忠臣

仪器所属类别: 分析仪器>>电子光学仪器>>扫描电镜

规格型号: Multivew 4000

所属科研设施:

主要功能: 主要功能为材料或微系统的近场光学测试使用。,音叉式扫描，中空探针；光学显微镜部分为共焦双置显微成像模式；激发方式有,上，下，侧向等灵活激发，激光波长：514nm. 适合用于SPR，纳米线、量子点等近场材料的表征及测试

主要技术指标: 1\探针扫描的工作方式和精度 ？ 具有样品扫描工作模式(即样品台扫描方式)，探针与样品间距采用音叉式轻敲方式控制，具有自动进针功能 ？ 样品台xy调节范围：≥5毫米，马达调节，精度0.25微米。 ？ 系统样品尺寸最大16毫米 ？ 样品扫描范围：≥80×80×80(微米)； ？ 近场光学分辨率：xy方向≤100纳米 ？ 要求能够精密地控制z方向针尖与样品表面的距离，马达调节，范围10mm，精度0.065微米。 ？ 能够扫描近场光学信号的同时得到AFM形貌图像 2\？ 样品台xy调节范围：≥5毫米，马达调节，精度0.25微米。 ？ 探针扫描范围：≥30×30×30(微米)， ？ 近场光学分辨率：xy方向≤100纳米， ？ 要求能够精密地控制z方向针尖与样品表面的距离，马达调节，范围10mm，精度0.065微米。 ？ 能够扫描近场光学信号的同时得到AFM形貌图像 3\1氩离子激光光源，波长为514nm激光器 4\具有透射，反射，和收集模式

安放地址:

服务内容:

服务的典型成果:

对外开放共享规定:

参考收费标准: